На главную 8-800-200-42-25
е-mail: info@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
ИК-Фурье спектрометры ИК-микроскопы Раман-спектрометры (спектрометры комбинационного рассеяния) Фурье-БИК анализаторы Дополнительное оборудование

ИК-Фурье спектрометры - ИК-Фурье спектрометр Nicolet iS50 для анализа кремниевых пластин

Последние новости
[25.07.2016]
Курс по ИК спектроскопии. Отчет
Читать далее»
[25.03.2016]
Курс повышения квалификации "Физико-химические методы анализа. Методы ИК спектроскопии: теория и практика"
Читать далее»
[03.02.2016]
Видео по применению рабочей станции Nicolet iS50
Читать далее»
...История новостей

ИК-Фурье спектрометр Nicolet iS50 для анализа кремниевых пластин


Области применения: Полупроводниковая промышленность
ИК-Фурье спектрометр Nicolet iS50 для анализа кремниевых пластин

ИК-Фурье спектрометр Nicolet Wafer Analysis System - специализированная система для анализа кремниевых пластин в полупроводниковой промышленности: отличное качество, высокая надежность и простота эксплуатации по приемлемой цене.

Wafer Analysis System позволяет проводить быстрое измерение междуузельного кислорода и углерода замещения; определять толщину эпитаксиальных слоев. Система способна обеспечить быстрый, надежный и гибкий анализ для кремниевых преобразователей солнечной энергии, которые распространяются все шире.

Соответствует всем международным стандартам в полупроводниковой промышленности.

SEMI MF 1188 "Контроль концентрации междуузельного кислорода в кремнии"

SEMI MF 1391 "Контроль концентрации углерода замещения в кремнии"

SEMI MF 951 "Контроль радиальной неоднородности междуузельного кислорода"

SEMI MF 95 "Контроль толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах n-n+, p-p+"

ASTM F120 "Infrared Absorption Analysis of Impurities in Single Crystal Semiconductor Materials"

ASTM F121 "Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption"

ASTM F951 "Standard test method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon wafers"

ASTM F1188 "Standard test method for interstitial atomic oxygen content of silicon by infrared absorption with short baseline"

ASTM F1189 "Using computer-assisted infrared spectrophotometry to measure the interstitial oxygen content of silicon slices polished on both sides"

ASTM F1391 "Standard Test Method for Substitutional Atomic Carbon Content of Silicon by Infrared Absorption"


 


Назад


ГлавнаяО компанииНовостиОборудованиеПрименениеСправочные материалыСтатьиКонтактыОбратная связь
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Создание сайта Wilmark Design